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X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。在近场区查找辐射源可以直接发现干扰源。在近场区查找辐射源的工具有近场探头和电流卡钳。检查电缆上的发射源要使用电流卡钳，检查机箱缝隙的泄漏要使用近场探头。电流卡钳与近场探头电流探头是利用变压器原理的能够检测导线上电流的传感器。当电流探头卡在被测导线上时，导线相当于变压器的初级，探头中的线圈相当于变压器的次级。导线上的信号电流在电流探头的线圈上感应出电流，在仪器的输入端产生电压。于是频谱分析仪的屏幕上就可以看到干扰信号的频谱。?位移量同步比较动态测量仪器。如测量线位移和角位移的渐线齿形检査仪、丝杠动态检査仪，以及测量角位移和角位移的齿形单面啮合检査仪、传动链测量仪等。在这类仪器中，测量角位移绝大多数用光栅式传感器，测量线位移也多数用光栅式传感器。?髙精度机床上的线位移和角位移测量。如高精度的光学坐标镗床、长刻线机和圆刻线机等。?数控机床上的位移测量。当前在数控机床的检测系统中，光栅式传感器用得很普遍，如数控车床、数控铣床，以及数控滚齿机等。
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但必须经过两道“结算门”。靠近道门，它会自动感应到你将离店，并自动启。两三秒之后走到第二道门，上面的屏幕显示“商品正在识别中”，再过一秒左右，显示“1件商品正在支付中”，大门启，你的手机收到扣款信息。经过“结算门”，它会自动识别商品信息并通过电子支付完成代扣。无人超市张前，发这套无人支付技术的蚂蚁金服的工程师们了一次内测：把商品放进书包、塞进裤兜；多人拥挤在一个货柜前 款；戴墨镜；戴墨镜＋戴帽子……，测试结果显示，常态场景都能被识别，非常态场景大多数情况下也能被系统识别出并准确扣款。
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