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在压力监测时，这些传感器还涉及困难、长期稳定性差等问题。井下光纤传感器没有井下电子线路、易于、体积小、抗干扰能力强等优点，而这些正是井下监测所必需的。美国CiDRA公司的在光纤压力监测研究方面处于前沿，他们的科研人员发现了布喇格光纤光栅传感器对压力的线性响应。已发的传感器能够工作到175oC，2oC和稍高温度的产品正在发，25oC是研发的下一个目标。不同温度和压力下的压力测量误差，在测试范围(MPa~34.5MPa)内，均小于±6.89kPa，相当于电子测量系统的的水平。一个半导体气体传感器商采用的基于PXI的集成化测试解决方案，该方案可测试所需的准确性，适应非常大规模的现场计数，并且在低成本的情况下可匹配高性能半导体测试系统的整体吞吐量性能。MOX气体传感器介绍MOX气体传感器是作为多芯片模块(MCM)的微机电系统(微机电系统)器件。MCM的基本组成部分是微控制器ASIC，在晶圆片上预测试，以及传感器本身。这些组件被放置在一个共同的基板上，盖子被放置在组件上，有一个小的孔或网，允许气体进入传感器。半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

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数控机床在运行过程中，其精度会产生一定误差，正确地运用激光干涉仪，并进行科学地分析，可有效提高数控机床的精度。数控机床是数字控制机床的简称，是一种装有程序控制系统的自动化机床。其较好地解决了复杂、精密、小批量、多品种的零件问题，是一种柔性的、能的自动化机床，代表了现代机床控制技术的发展方向，是一种典型的机电一体化产品。机床工具行业作为 基础性和战略性产业，在"十二五"规划中，已明确将自主创新战略作为 主要的一个组成部分，着重强调了要以技术创新工程来支撑和引领行业发展。

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