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关模式电源有三种常用电流检测方法是：使用检测电阻，使用MOSFETRDS(ON)，以及使用电感的直流电阻(DCR)。每种方法都有优点和缺点，选择检测方法时应予以考虑。检测电阻电流传感作为电流检测元件的检测电阻，产生的检测误差(通常在1%和5%之间)，温度系数也非常低，约为100ppm/°C(0.01%)。在性能方面，它精度的电源，有助于实现极为的电源限流功能，并且在多个电源并联时，还有利于实现精密均流。经检测发现主要原因：设备后端comm口后端丝被烧坏。故障二6514B不机。经拆机检测发现：输入端部分元器件被烧坏，电源模块丝被烧坏。总结数字万用表故障现象，由四点主要原因造成。如下：超量程使用，频繁出现overlode。元器件老化操作规范电能质量如何避免类似故障的产生良好接地接地良好不仅可以保证仪器和操作人员的安全，还能提高测试精度，高精度仪器的测试线缆都是具有屏蔽线的，而仪器屏蔽地就是供电地线，接地良好可以使屏蔽外界对信号传输的干扰。HIOKI的PW61功率分析仪是以将这些要求通过1台仪器实现所设计出来的。DC端和PWM端可同时测量 多6ch的电压电流输入，并拥有2MHz的测量带宽，通过5MHz、18bit的A/D转换器以高速高分辨率进行采样。而且还有扭矩和转速信号输入。这些都可以以 1ms的速度完全同步时序测量，实时计算损耗和效率。电流输入具备有 适于高精度电流传感器的输入和传感器供电能力，因为要接受高精度扭矩传感器的信号因此扭矩信号以频率接收。

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湖南盈能电力科技有限公司建有科技大楼、研发中心、自动化公区及标准生产车间，生产线配备了 的试验设备，制定了系统发软件、通讯协议安全可靠，性能测试稳定，并与国内大学单片机中心组成为产学研联合体。盈能电力主要分为四大生产事业部运营：电气自动化事业部、高压电器事业部、智能仪表事业部、低压电器事业部。公司现拥有多名 工程师，几 技术人才，近百名生产员工。 yndl1381

半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。接于公共连接点的每个用户引起该点负序电压不平衡度允许值一般为1.3%，短时不超过2.6%。公用电网谐波GB/T149--93《电能质量-公用电网谐波》中规定：6～220kV各级公用电网电压(相电压)总谐波畸变率是0.38kV为5.0%，6～10kV为4.0%，35～66kV为3.0%，110kV为2.0%；用户注入电网的谐波电流允许值应保证各级电网谐波电压在限值范围内，所以国标规定电能质量分析仪的各级电网谐波源产生的电压总谐波畸变率是：0.38kV为 为1.9%，110kV为1.5%。

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