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在一般中，由于阻抗关系到天线的匹配，也就关系到天线的驻波，所以，通常把驻波调小，阻抗也就基本正确了。但是在专门天线时，为了明确调试的方向，提高调试的速度和精度，需要测试天线的阻抗。阻抗和驻波不同，通常说的驻波是标量参数，它与相位没有什么关系。而阻抗是矢量参数，它与相位有直接的关系。测阻抗其实就是测反射的相位，相位测量的准确度关系到阻抗的准确度。我们通常很难把天线的馈电点直接连接到仪器上，只能把仪器接在馈线的另一端。如果一定要搬动，切记先切断电源后稍等片刻再搬动；避免阳光直射显示屏：阳光曝晒，不仅影响观察，而且还会使液晶屏老化，发光率下降，寿命缩短，平时放置时用深色布罩套住；尽量减少关次数：仪器每一次机，会受到一次瞬间大电流冲击，另外，由于电路上使用了一些感性与容性元器件，机瞬间产生过压、过流现象，容易损坏元器件，有些故障往往就是关机瞬间出现的；注意发现机器有故障时应立即关机：如在使用过程中出现冒烟、有焦味或光栅异常都应该立即关机，请专业人员检修以免造成更大损失；定期擦拭仪器外壁;要注意防止潮湿侵蚀：潮湿不仅会降低高压部件绝缘性能，引起打火、散热等 现象，而且金属印刷铜箔和元器件引脚容易受到腐蚀和损坏。半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

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湖南盈能电力科技有限公司建有科技大楼、研发中心、自动化公区及标准生产车间，生产线配备了 的试验设备，制定了系统发软件、通讯协议安全可靠，性能测试稳定，并与国内大学单片机中心组成为产学研联合体。盈能电力主要分为四大生产事业部运营：电气自动化事业部、高压电器事业部、智能仪表事业部、低压电器事业部。公司现拥有多名 工程师，几 技术人才，近百名生产员工。 yndl1381

各类管件中遇到 多的是弯管和各种弯管组合(如同平面双弯管和立体双弯管)。各类流量仪表对上游流动扰动的敏感程度不一，因此要提出各自的要求。下游扰动源主要是弯管、阀门等对流体流动形成的扰动会上溯传播，可以影响到几倍管径长度的距离处。在大部分情况下5倍管径的下游直管段已经足够了；有些特例可能要稍长些，但可认为10倍管径的下游直管段，就能可靠地应付任何下游管件所产生的扰动。如直管段长度不能满足要求而又要保证测量精度，则可采取以下两个变通法之一。汽车，是许多家庭主要的交通工具，正因为如此，汽车的安全性成了人们重点关注的话题。安全气囊，安全座椅，安全带，碰撞试验，汽车厂家在汽车安全方面可谓花了大价钱。据统计显示，在高速公路上，40%的交通事故是由于轮胎的故障引起的，而其中又有75%是由于爆胎引起的，可见，轮胎是汽车安全性的重中之重。轮胎由于长时间与地面接触，摩擦，暴晒等很容易造成轮胎的破损，胎压不稳，过压或低压均有可能造成行车的危险。正因如此，胎压监测应运而生。

但也不排除由于浮子导向杆与止动环不同心，造成浮子卡死。时可将仪表拆下，将变形的止动器取下整形，并检查与导向杆是否同心，如不同心可进行校正，然后将浮子装好，手推浮子，感觉浮子上下通畅无阻卡即可，另外，在浮子流量计时一定要垂直或水平，不能倾斜，否则也容易引起卡表并给测量带来误差。测量误差大不符合要求;对于垂直浮子流量计要保持垂直，倾角不大于20度;对于水平浮子流量计要保持水平，倾角不大于20度;浮子流量计周围100mm空间不得有铁磁性物体;位置要远离阀门变径口、泵出口、工艺管线转弯口等。

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