在一般中,由于阻抗关系到天线的匹配,也就关系到天线的驻波,所以,通常把驻波调小,阻抗也就基本正确了。但是在专门天线时,为了明确调试的方向,提高调试的速度和精度,需要测试天线的阻抗。阻抗和驻波不同,通常说的驻波是标量参数,它与相位没有什么关系。而阻抗是矢量参数,它与相位有直接的关系。测阻抗其实就是测反射的相位,相位测量的准确度关系到阻抗的准确度。我们通常很难把天线的馈电点直接连接到仪器上,只能把仪器接在馈线的另一端。如果一定要搬动,切记先切断电源后稍等片刻再搬动;避免阳光直射显示屏:阳光曝晒,不仅影响观察,而且还会使液晶屏老化,发光率下降,寿命缩短,平时放置时用深色布罩套住;尽量减少关次数:仪器每一次机,会受到一次瞬间大电流冲击,另外,由于电路上使用了一些感性与容性元器件,机瞬间产生过压、过流现象,容易损坏元器件,有些故障往往就是关机瞬间出现的;注意发现机器有故障时应立即关机:如在使用过程中出现冒烟、有焦味或光栅异常都应该立即关机,请专业人员检修以免造成更大损失;定期擦拭仪器外壁;要注意防止潮湿侵蚀:潮湿不仅会降低高压部件绝缘性能,引起打火、散热等 现象,而且金属印刷铜箔和元器件引脚容易受到腐蚀和损坏。半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
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湖南盈能电力科技有限公司建有科技大楼、研发中心、自动化公区及标准生产车间,生产线配备了 的试验设备,制定了系统发软件、通讯协议安全可靠,性能测试稳定,并与国内大学单片机中心组成为产学研联合体。盈能电力主要分为四大生产事业部运营:电气自动化事业部、高压电器事业部、智能仪表事业部、低压电器事业部。公司现拥有多名 工程师,几 技术人才,近百名生产员工。 yndl1381
各类管件中遇到 多的是弯管和各种弯管组合(如同平面双弯管和立体双弯管)。各类流量仪表对上游流动扰动的敏感程度不一,因此要提出各自的要求。下游扰动源主要是弯管、阀门等对流体流动形成的扰动会上溯传播,可以影响到几倍管径长度的距离处。在大部分情况下5倍管径的下游直管段已经足够了;有些特例可能要稍长些,但可认为10倍管径的下游直管段,就能可靠地应付任何下游管件所产生的扰动。如直管段长度不能满足要求而又要保证测量精度,则可采取以下两个变通法之一。汽车,是许多家庭主要的交通工具,正因为如此,汽车的安全性成了人们重点关注的话题。安全气囊,安全座椅,安全带,碰撞试验,汽车厂家在汽车安全方面可谓花了大价钱。据统计显示,在高速公路上,40%的交通事故是由于轮胎的故障引起的,而其中又有75%是由于爆胎引起的,可见,轮胎是汽车安全性的重中之重。轮胎由于长时间与地面接触,摩擦,暴晒等很容易造成轮胎的破损,胎压不稳,过压或低压均有可能造成行车的危险。正因如此,胎压监测应运而生。
但也不排除由于浮子导向杆与止动环不同心,造成浮子卡死。时可将仪表拆下,将变形的止动器取下整形,并检查与导向杆是否同心,如不同心可进行校正,然后将浮子装好,手推浮子,感觉浮子上下通畅无阻卡即可,另外,在浮子流量计时一定要垂直或水平,不能倾斜,否则也容易引起卡表并给测量带来误差。测量误差大不符合要求;对于垂直浮子流量计要保持垂直,倾角不大于20度;对于水平浮子流量计要保持水平,倾角不大于20度;浮子流量计周围100mm空间不得有铁磁性物体;位置要远离阀门变径口、泵出口、工艺管线转弯口等。
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